Investigations on rf breakdown phenomenon in high gradient accelerating structures

Loại tài liệu: Tài liệu số - Book

Tác giả: Shao, Jiahang

Nhà Xuất Bản: Springer

Năm Xuất Bản: 2018

(Tải app tại đây để đọc sách)

Tóm tắt

This book mainly focuses on the experimental research of rf breakdown and field emission with novel methods, including triggering rf breakdown with high intensity laser and pin-shaped cathodes as well as locating field emitters with a high resolution in-situ imaging system. With these methods, this book has analyzed the power flow between cells during rf breakdown, observed the evolution of field emission during rf conditioning and the dependence of field emission on stored energy, and studied the field emitter distribution and origination. The research findings greatly expand the understanding of rf breakdown and field emission, which will in turn benefit future study into electron sources, particle accelerators, and high gradient rf devices in general.

Ngôn ngữ:en
Tác Giả:Shao, Jiahang
Thông tin nhan đề:Investigations on rf breakdown phenomenon in high gradient accelerating structures
Nhà Xuất Bản:Springer
Loại hình:Book
Bản quyền:©Springer Nature Singapore Pte Ltd. 2018
Mô tả vật lý:131 p.
Năm Xuất Bản:2018

(Sử dụng ứng dụng VNU- LIC quét QRCode này để mượn tài liệu)

(Lưu ý: Sử dụng ứng dụng Bookworm để xem đầy đủ tài liệu. Bạn đọc có thể tải Bookworm từ App Store hoặc Google play với từ khóa "VNU LIC”)